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| 2008-10-08 - Roma
Corso teorico-pratico di Microscopia Elettronica a Scansione applicata ai Beni Culturali
Roma, 8-10 Ottobre 2008
Istituto Superiore per la Conservazione ed il Restauro
(ex Istituto Centrale per il Restauro)
Piazza S. Francesco di Paola, 9 – Roma
Informazioni Generali
Il corso, organizzato dalla SISM in collaborazione con
l’ISCR nella suggestiva cornice del Centro Storico di
Roma, avrà la durata di tre giorni e sarà incentrato sui
principi della Microscopia Elettronica a Scansione (SEM) e
le sue applicazioni nel campo della conservazione e
restauro del Patrimonio Artistico.
Il corso è rivolto sia a ricercatori, studenti e tecnici
interessati alla microscopia elettronica, sia a chi opera in
generale nel campo dei beni culturali. La prima parte del
corso prevede una sezione teorica, nell’ambito della quale
saranno illustrati i principi generali di funzionamento del
SEM (descrizione dello strumento, interazione elettronemateria,
microanalisi, ecc.) e mostrate le applicazioni nel
campo dei beni culturali. Verranno affrontati argomenti
come la caratterizzazione dei materiali costitutivi, le
metodologie di indagine per risalire alle tecniche di
esecuzione e per la valutazione dello stato di conservazione
dei manufatti storico artistici. Saranno inoltre illustrate
alcune applicazioni della microscopia in campi innovativi
come le nanotecnologie per la conservazione dei beni
culturali.
La parte pratica del corso sarà invece condotta sul
microscopio elettronico e consentirà di conoscere le
potenzialità della tecnica attraverso alcune dimostrazioni
pratiche di analisi di reperti originali. Sempre nell’ambito
del corso, le principali ditte leader nel settore della
microscopia elettronica presenteranno le ultime novità
strumentali e materiali del settore.
E’ previsto un test di valutazione finale per gli studenti
interessati a richiedere il riconoscimento di crediti
formativi universitari (CFU).
È previsto un numero massimo di 30 partecipanti.
È richiesto un numero minimo di 10 partecipanti per attivare il
corso.
Per ulteriori informazioni rivolgersi a:
dr.ssa Amelia Montone (montone@casaccia.enea.it)
Iscrizione
La scheda di iscrizione deve essere inviata entro il 20
settembre 2008 con una delle seguenti modalità:
- online dal sito www.sism.it
- e-mail a montone@casaccia.enea.it
- fax 06 30483176
unitamente a copia del versamento della quota.
Il costo complessivo del corso è:
SOCIO SISM: 3001 + IVA 20%2
NON SOCIO SISM:3 3501 + IVA 20%2
1 Per i non strutturati è prevista una riduzione del 20% da
calcolarsi sull’importo al netto di IVA delle quote di
iscrizione.
2 I dipendenti di Enti Pubblici sono esentati dal
pagamento dell’IVA gravante sulla quota di iscrizione ai
sensi dell’art. 10 DPR 633/72.
3 Chi farà richiesta di associazione alla SISM sarà
esonerato dal versamento della quota associativa 2009.
Le quote di iscrizione comprendono l’accesso ai lavori, il
materiale didattico ed i coffe break; non comprendono i
pasti.
A fronte del pagamento sarà rilasciata regolare fattura.
Le quote d’iscrizione possono essere versate attraverso:
- Carta di credito (dal sito www.sism.it)
- Bonifico bancario intestato a
S.I.S.M.
IBAN: IT 44V0 1005 3888 0000 0000 23074
presso BNL-Anguillara S.
Causale: “Corso Roma 2008 + Nome del partecipante”
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