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| 2008-10-08 - Roma Corso teorico-pratico di Microscopia Elettronica a Scansione applicata ai Beni Culturali
Roma, 8-10 Ottobre 2008
Istituto Superiore per la Conservazione ed il Restauro (ex Istituto Centrale per il Restauro)
Piazza S. Francesco di Paola, 9 – Roma
Informazioni Generali Il corso, organizzato dalla SISM in collaborazione con l’ISCR nella suggestiva cornice del Centro Storico di Roma, avrà la durata di tre giorni e sarà incentrato sui principi della Microscopia Elettronica a Scansione (SEM) e le sue applicazioni nel campo della conservazione e restauro del Patrimonio Artistico. Il corso è rivolto sia a ricercatori, studenti e tecnici interessati alla microscopia elettronica, sia a chi opera in generale nel campo dei beni culturali. La prima parte del corso prevede una sezione teorica, nell’ambito della quale saranno illustrati i principi generali di funzionamento del SEM (descrizione dello strumento, interazione elettronemateria, microanalisi, ecc.) e mostrate le applicazioni nel campo dei beni culturali. Verranno affrontati argomenti come la caratterizzazione dei materiali costitutivi, le metodologie di indagine per risalire alle tecniche di esecuzione e per la valutazione dello stato di conservazione dei manufatti storico artistici. Saranno inoltre illustrate alcune applicazioni della microscopia in campi innovativi come le nanotecnologie per la conservazione dei beni culturali.
La parte pratica del corso sarà invece condotta sul microscopio elettronico e consentirà di conoscere le potenzialità della tecnica attraverso alcune dimostrazioni pratiche di analisi di reperti originali. Sempre nell’ambito del corso, le principali ditte leader nel settore della microscopia elettronica presenteranno le ultime novità strumentali e materiali del settore. E’ previsto un test di valutazione finale per gli studenti interessati a richiedere il riconoscimento di crediti formativi universitari (CFU). È previsto un numero massimo di 30 partecipanti. È richiesto un numero minimo di 10 partecipanti per attivare il corso. Per ulteriori informazioni rivolgersi a: dr.ssa Amelia Montone (montone@casaccia.enea.it)
Iscrizione La scheda di iscrizione deve essere inviata entro il 20 settembre 2008 con una delle seguenti modalità: - online dal sito www.sism.it - e-mail a montone@casaccia.enea.it - fax 06 30483176 unitamente a copia del versamento della quota. Il costo complessivo del corso è: SOCIO SISM: 3001 + IVA 20%2 NON SOCIO SISM:3 3501 + IVA 20%2 1 Per i non strutturati è prevista una riduzione del 20% da calcolarsi sull’importo al netto di IVA delle quote di iscrizione. 2 I dipendenti di Enti Pubblici sono esentati dal pagamento dell’IVA gravante sulla quota di iscrizione ai sensi dell’art. 10 DPR 633/72. 3 Chi farà richiesta di associazione alla SISM sarà esonerato dal versamento della quota associativa 2009.
Le quote di iscrizione comprendono l’accesso ai lavori, il materiale didattico ed i coffe break; non comprendono i pasti. A fronte del pagamento sarà rilasciata regolare fattura. Le quote d’iscrizione possono essere versate attraverso: - Carta di credito (dal sito www.sism.it) - Bonifico bancario intestato a S.I.S.M. IBAN: IT 44V0 1005 3888 0000 0000 23074 presso BNL-Anguillara S. Causale: “Corso Roma 2008 + Nome del partecipante”
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